SRM640g 粉末衍射的線位置和線形狀標(biāo)準(zhǔn) （硅粉）

英文名稱：Line Position and Line Shape Standard for Powder Diffraction (Silicon Powder)

品牌：美國(guó)NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

SRM640g是美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）研制的超高純硅粉標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)，屬640系列最l新批次，核心用途為X射線粉末衍射儀（XRD）校準(zhǔn)，專為衍射線位置（2θ角）和線形（峰寬）的標(biāo)準(zhǔn)化提供量值基準(zhǔn)，SRM640g 硅粉標(biāo)準(zhǔn)品廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、化工等領(lǐng)域的晶體結(jié)構(gòu)分析與儀器性能驗(yàn)證。

該SRM640g 硅粉標(biāo)準(zhǔn)品單單位為7.5克，采用氬氣封裝裝瓶防潮，原料源自德國(guó)Siltronic AG超高純本征硅晶錠，經(jīng)粉碎、噴射研磨至中值粒徑4.1μm，再于1000℃氬氣環(huán)境下退火2小時(shí)以消除晶格應(yīng)力。核心認(rèn)證值為22.5℃下晶格參數(shù)0.5431144nm±0.000008nm，量值溯源至國(guó)際單位制（SI），經(jīng)XRD分析驗(yàn)證均勻性，相對(duì)晶格變化≤±4.8×10??（95%置信區(qū)間）。

使用與儲(chǔ)存需遵循規(guī)范：適配Bragg-Brentano幾何衍射儀，可通過(guò)基本參數(shù)法和Pawley精修校準(zhǔn)2θ角及衍射峰半高寬（FWHM）；未使用部分需密封于原瓶，保持氬氣防護(hù)防潮，避免污染、損壞。其認(rèn)證值在規(guī)定不確定度內(nèi)無(wú)限期有效，無(wú)需定期重新認(rèn)證，違規(guī)儲(chǔ)存或使用會(huì)導(dǎo)致認(rèn)證失效。

SRM640g 硅粉標(biāo)準(zhǔn)品無(wú)顯著安全風(fēng)險(xiǎn)，核心防護(hù)重點(diǎn)為防止吸潮與污染。作為XRD校準(zhǔn)領(lǐng)域的關(guān)鍵基準(zhǔn)物質(zhì)，它為檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性與可比性提供保障，是科研及工業(yè)質(zhì)量控制體系的重要支撐。

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