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產(chǎn)品展示-
- SRM 1992 Zeta電位-膠體二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)品
SRM 1992 - Zeta電位-膠體二氧化硅（標(biāo)稱質(zhì)量分?jǐn)?shù) 0.15 %） 旨在評估用于測量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：4 x 5 mL
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- SRM 1993 Zeta電位-膠體二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)品
SRM 1993 - Zeta 電位 - 膠體二氧化硅（標(biāo)稱質(zhì)量分?jǐn)?shù) 2.2 %） 旨在評估用于測量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：2 x 25 mL
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- SRM 2031c 熔石英中性密度濾光片標(biāo)準(zhǔn)品(250 nm至635 nm)
SRM 2031c 熔融石英上中性密度濾光片（標(biāo)準(zhǔn)品）旨在用于驗(yàn)證分光光度計(jì)在紫外和可見光譜區(qū)域的透射率和吸光度標(biāo)度。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set (3)
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- SRM 2034 氧化鈥溶液波長標(biāo)準(zhǔn)(240 nm至650 nm)
SRM 2034氧化鈥溶液波長標(biāo)準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)品)是一種經(jīng)過認(rèn)證的轉(zhuǎn)移標(biāo)準(zhǔn)，用于驗(yàn)證和校準(zhǔn)標(biāo)稱光譜帶寬不超過 3 nm 的紫外和可見吸收分光光度計(jì)的波長范圍。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：比色皿
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- SRM 2036 近紅外波長/波數(shù)反射標(biāo)準(zhǔn)品
SRM 2036 近紅外波長 波數(shù)反射（標(biāo)準(zhǔn)品）是一種經(jīng)過認(rèn)證的傳輸標(biāo)準(zhǔn)，旨在驗(yàn)證和校準(zhǔn)在漫反射模式下運(yùn)行的波長 (λ) 和波數(shù) (ν) 尺度近紅外 (NIR) 光譜儀。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：each
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- SRM 2093 低能量Charpy V-缺口樣本(自驗(yàn)證，8毫米射手)
SRM 2096高能Charpy V-缺口標(biāo)本（標(biāo)準(zhǔn)品）提供的認(rèn)證值主要用于驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [ 2]。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set
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- SRM 2097 高能Charpy V-缺口標(biāo)本(自驗(yàn)證，8毫米射手)
SRM 2097 高能Charpy V-缺口標(biāo)本（標(biāo)準(zhǔn)品）旨在根據(jù)當(dāng)前的 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set
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- SRM 2098 超高能量Charpy V-缺口樣本(NIST-驗(yàn)證，8毫米射手)
SRM 2098 超高能夏比 V 型缺口試樣（標(biāo)準(zhǔn)品）旨在根據(jù)當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 mm 撞針的夏比機(jī)器。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set
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- SRM 2100a 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品
SRM 2100a 陶瓷斷裂韌性(標(biāo)準(zhǔn)品)旨在驗(yàn)證斷裂韌性測試程序。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：5 bars
陳經(jīng)理（銷售）
